日本 Advantest - 高分辨率脈衝時域反射計 (TDR)

 

Advantest爲半導體封裝測試所必需的測試系統、測試處理機和器件接口提供一站式服務。爲全球分佈的半導體供應鏈提供支持。美國市場研究公司VLSIresearch的年度客戶滿意度調查連續32年將Advantest評爲“10個最佳”半導體制造設備供應商,被評爲客戶滿意度優異的供應商。

 
 
高分辨率脈衝時域反射計(TDR)/脈衝時域透射計(TDT)系統
實現世界最高的信號品質
非破壞性分析IC封裝以及電路版內部配線的故障部位

TS9001TDR系統利用專有的短脈衝信號處理技術進行高分辨率TDR測量(時域反射計),對尖端半導體封裝中導線的故障區域進行快速、高精度和非破壞性分析。與傳統的TDR(示波器)相比,TS9001脈衝信號上升時間短、抖動小,有更高的分辨率。通過比較良品和不良品的波形,根據峯位和僅出現在不良品中的測量點計算故障點,可選的 Failure Position Viewer 可以在CAD上疊加故障點位置,很容易確定故障點位置。       

應用:
- 微凸、C4 凸塊的破斷、接觸不良分析
- 硅穿孔 (TSV) 的接觸不良診斷
- 接頭、樹脂版內部的配線不良診斷 

 

 

 

 

 

 

TS9001 TDR系統用於高級
IC封裝線路故障分析介紹

 

 

 

Advantest FCBGA中的斷路
*TDR: Time domain reflectometry,脈衝時域反射計
*TDT: Time domain transmissometry,脈衝時域透射計

 

 

 

TDR分析示例: 2.5D TSV封裝 

3種參考樣品的分析實例
故障樣本的反射脈衝爲負。脈衝峯值與參考B相比略有延遲。因此,可以判斷C4 Bump上的故障位置爲開路。

日本 Advantest - 高分辨率脈衝時域反射計 (TDR)

  • 品 牌 Advantest
  • 型 號 Advantest Japan - Time Domain Reflectometry (TDR)
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